Miller D.J., Maroni V.A., Specht E.D., Paranthaman M., Aytug T., Cantoni C., Zhang Y., Zuev Y., Kropf A.J., Chen Z.*21, Zaluzec N.
Christen D.K., Thompson J.R., Cantoni C., Zhang Y., Selvamanickam V., Chen Y., Zuev Y.L., Sinclair J.W.
Maroni V.A., Goyal A., Specht E.D., Paranthaman M., Aytug T., Christen D.K., Kim K., Cantoni C., Zhang Y., Selvamanickam V., Chen Y., Zuev Y.L.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, buffer layers, pinning, PLD process, substrate SrTiO3, films, cap layers, nanoscaled effects, phase formation, phase separation, fabrication, microstructure, size effect, critical caracteristics, Jc/B curves, critical current density, angular dependence, experimental results
Goyal A., Cantoni C., Xie Y., Civale L., Zhang Y., Zhang Y., Selvamanickam V., Carota G., Chen Y., Zuev Y., Dackow J., Guevara A., Kesgin I., Coulter J.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, buffer layers, fabrication, RABITS process, substrate Ni-W, MOD process, microstructure
Goyal A., Paranthaman M., Lee D., Aytug T., Cantoni C., Zhang Y., Selvamanickam V., Chen Y., Zuev Y., Specht E.
Goyal A., Specht E.D., Aytug T., Christen D.K., Paranthaman M.P., Thompson J.R., Cantoni C., Zhang Y., Selvamanickam V., Chen Y., Zuev Y.L., Sinclair J.W.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, buffer layers, MOD process, seed layers, RABITS process, texture, microstructure, fabrication
Ключевые слова: HTS, coated conductors, YBCO, nanoscaled effects, pinning, ac losses, REBCO, PLD process, LTG process, fabrication, measurement technique, Hall sensor, presentation
Paranthaman M., Christen D.K., Cantoni C., Thompson J.R.(jrt@utk.edu), Sorge K.D., Kerchner H.R.
Lee D.F., Cantoni C., Rutter N., Goyal A.(goyala@ornl.gov)
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.